電子モジュール、データ収集カード、DMCA、フォトンカウンター
製品導入
Kinheng は、放射線分光計、個人線量計、セキュリティ画像処理およびその他の分野向けに、PMT、SiPM、PD に基づくシンチレータ検出器を提供できます。
1. SDシリーズ検出器
2. IDシリーズ検出器
3. 低エネルギーX線検出器
4. SiPMシリーズ検出器
5. PDシリーズ検出器
製品 | |||||
シリーズ | モデル番号。 | 説明 | 入力 | 出力 | コネクタ |
PS | PS-1 | ソケット付き電子モジュール、1 インチ PMT | 14ピン |
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PS-2 | ソケットと高/低電源供給付き電子モジュール - 2 インチ PMT | 14ピン |
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SD | SD-1 | 探知機。ガンマ線用の 1 インチ NaI(Tl) および 1 インチ PMT を統合 |
| 14ピン |
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SD-2 | 探知機。ガンマ線用の 2 インチ NaI(Tl) および 2 インチ PMT を統合 |
| 14ピン |
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SD-2L | 探知機。統合された 2L NaI(Tl) とガンマ線用の 3 インチ PMT |
| 14ピン |
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SD-4L | 探知機。統合された 4L NaI(Tl) とガンマ線用の 3 インチ PMT |
| 14ピン |
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ID | ID-1 | 1 インチ NaI(Tl)、PMT、ガンマ線用電子モジュールを備えた統合検出器。 |
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| GX16 |
ID-2 | 2 インチ NaI(Tl)、PMT、ガンマ線用電子モジュールを備えた統合検出器。 |
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| GX16 | |
ID-2L | 2L NaI(Tl)、PMT、ガンマ線用電子モジュールを備えた統合検出器。 |
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| GX16 | |
ID-4L | 4L NaI(Tl)、PMT、ガンマ線用電子モジュールを備えた統合検出器。 |
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| GX16 | |
MCA | MCA-1024 | MCA、USBタイプ-1024チャンネル | 14ピン |
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MCA-2048 | MCA、USBタイプ-2048チャンネル | 14ピン |
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MCA-X | MCA、GX16 タイプ コネクタ - 1024 ~ 32768 チャネルが利用可能 | 14ピン |
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HV | H-1 | HVモジュール |
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HA-1 | HV調整可能モジュール |
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HL-1 | 高電圧/低電圧 |
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HLA-1 | 高/低電圧調整可能 |
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X | X-1 | 統合された検出器 - X 線 1 インチ クリスタル |
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| GX16 |
S | S-1 | SIPM 統合検出器 |
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| GX16 |
S-2 | SIPM 統合検出器 |
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| GX16 |
SD シリーズ検出器は、結晶と PMT を 1 つのハウジングに封入しており、NaI(Tl)、LaBr3:Ce、CLYC などの一部の結晶の吸湿性の欠点を克服しています。PMTをパッケージングする際、内部の地磁気シールド材が検出器への地磁気の影響を軽減しました。パルスカウント、エネルギースペクトル測定、放射線量測定に適用できます。
PSプラグソケットモジュール |
SD-分離型検出器 |
ID一体型検出器 |
H- 高電圧 |
HL- 固定高/低電圧 |
AH- 調整可能な高電圧 |
AHL - 調整可能な高/低電圧 |
MCA-マルチチャンネルアナライザー |
X線検出器 |
S-SiPM検出器 |
プロパティ
モデルプロパティ | PS-1 | PS-2 |
PMT | 1” | 2インチ以上 |
PMTモデル | CR125、CR284、CR332 | CR173、CR119、CR160 |
保管温度 | -55~70℃ | -55~70℃ |
動作温度 | -40~55℃ | -40~55℃ |
HV | 0~+1250V | なし |
低い電圧 | ±5V | +5V |
信号振幅 | -1V | -1V |
信号極性 | ネガティブ | ネガティブ |
信号ベースライン | ±20mV | ±20mV |
信号出力の種類 | 負の指数関数的減衰パルス | 負の指数関数的減衰パルス |
動作湿度 | ≤70% | ≤70% |
応用
1.PMT + シンチレータアセンブリ信号抽出
2.検出器テスト
3.スペクトル解析
スペクトル分析
スペクトル分析またはスペクトル分析は、周波数のスペクトル、またはエネルギーや固有値などの関連量に関する分析です。特定の分野では、次のことを指す場合があります。 化学および物理学における分光法、電磁波から物質の特性を分析する方法。相互作用。
スペクトラムアナライザの重要性
無線周波数 (RF) 信号と無線通信は、Wi-Fi、モバイル ネットワーキングと通信、無線インターネット オブ シングス デバイス センサー、従来型無線、レーダーなどのおかげで、今日どこにでも普及しています。このような回路やシステムをテストおよび設計するには、信号スペクトル全体と、スプリアス信号、ノイズ、変調信号幅などのその他の要素を確認することが役立ちます。